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首頁 技術小貼士

High-NA EUV 微影:2nm以下製程的「光刻巨獸」

High-NA(高數值孔徑)EUV是ASML推出的新一代極紫外光微影設備,數值孔徑從0.33提高到0.55,是實現2nm以下節點單次曝光的關鍵。…

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Chiplet 是什麼?為何它改變了晶片設計模式?

Chiplet(小晶片或晶粒)是一種將大型單晶片拆分為多個較小晶粒,再透過先進封裝整合在一起的設計模式 [citation:1][citation:5…

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共封裝光學(CPO)技術詳解:AI資料中心的光速革命

共封裝光學(Co-Packaged Optics, CPO)是將光學引擎和交換器晶片封裝在一起的先進技術,被視為解決AI資料中心頻寬和功耗瓶頸的…

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碳化矽(SiC)與氮化鎵(GaN):第三代半導體有何不同?

碳化矽(SiC)和氮化鎵(GaN)被稱為第三代半導體或寬能隙半導體,它們比傳統矽材料更能承受高壓、高頻和高溫 [citation:1][cit…

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HBM4全面解析:下一代高頻寬記憶體的技術革新

HBM4是繼HBM3e之後的下一代高頻寬記憶體,預計2026年開始量產,滿足NVIDIA Rubin平台等新一代AI晶片的需求。 規格升級: 最大頻…

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HBM 是什麼?為何 AI 晶片離不開高頻寬記憶體?

HBM(High Bandwidth Memory,高頻寬記憶體)是專為高效能運算和 AI 加速器設計的先進記憶體解決方案 [citation:9]。 HBM 的技…

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BCD製程是什麼?為何電源管理IC離不開它?

BCD(Bipolar-CMOS-DMOS)是一種將雙極晶體管、CMOS和DMOS整合在同一晶片上的製程技術,由意法半導體於1980年代首創。 三種元件…

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矽光子與 CPO 是什麼?下世代資料中心的關鍵技術解析

隨著 AI 算力需求暴增,傳統的銅線傳輸已無法滿足超高頻寬和低延遲要求,矽光子和共封裝光學(CPO)因此成為熱門技術 [citation…

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晶圓測試(Wafer Probing)是什麼?AI晶片如何通過測試?

晶圓測試(Wafer Probing)是半導體封裝前的重要環節,透過探針卡接觸晶片上的焊墊,檢測電性功能是否正常。 測試流程: 晶圓製…

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EUV 微影技術:如何實現 2nm 製程的奈米級圖案?

極紫外光(EUV)微影是實現 7nm 以下先進製程的關鍵設備,目前由荷商 ASML 獨家供應 [citation:1][citation:9]。 什麼是 EUV? …

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